Paweł Malinowski

Streszczenie

W artykule opisano doświadczenia przeprowadzone w Automatycznym Systemie Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS), które wykazały, że zastępując standardowo stosowane przeszukanie typu TP/TP (karta/karta) przeszukaniem typu LT/TP (ślad/karta) przy opracowywaniu wywiadów daktyloskopijnych z odwzorowaniami linii papilarnych utrwalonymi w masie silikonowej, otrzymuje się optymalne wyniki. Dodatkowo zawarto szereg praktycznych wskazówek dla osób opracowujących tego rodzaju wywiady, z jakich narzędzi AFIS należy korzystać, aby uzyskiwać prawidłowe wyniki przeszukania w systemie i minimalizować ryzyko wystąpienia błędów.

Słowa klucze: wywiad daktyloskopijny, odwzorowania linii papilarnych utrwalone w masie silikonowej, AFIS, przeszukanie TP/TP (karta/karta), przeszukanie LT/TP (ślad/karta)

Summary

The article describes experiments conducted using the Automatic Fingerprint Identification System (AFIS), which demonstrated that replacing the standard search type TP/TP (card/card) with the type LT/TP (tracę/ card) in conducting dactyloscopic investigations with fingerprint patterns preserved in silicone molds leads to optimal results. Moreover, a series of practical tips for investigators are included, covering the AFIS tools that should be used to obtain correct search results in the system and minimize the risk of errors.

Keywords: dactyloscopic investigation, fingerprint patterns preserved in silicone molds, AFIS, TP/TP (card/ card) search type, LT/TP (trace/card) search type